Методы исследования структуры полупроводников и металлов
В.Т. Бублик, А.Н. Дубровина
В пособии изложена теория основных методов исследования (оптические, рентгенодифракционные, электронографические) структуры магнитных и немагнитных полупроводниковых и диэлектрических кристаллов и эпитаксиальных пленок и устройств на их основе, а также металлических материалов. Рассмотрены области применения указанных методов исследования.
श्रेणियाँ:
साल:
1978
प्रकाशन:
Металлургия
भाषा:
russian
पृष्ठ:
272
फ़ाइल:
PDF, 18.04 MB
IPFS:
,
russian, 1978